دانشکده مهندسی کامپیوتر- دفاعیه دکترا
جلسه دفاعیه از رساله دکتری

بازیابی تصاویر و رنگ‌ها  | تاریخ ارسال: 1397/8/27 | 

آقای اسماعیل نیک روان دانشجوی دکترای جناب آقای دکتر سعید پارسا روز یکشنبه مورخ 1397/08/27 ساعت 11:00  از رساله دکتری خود تحت عنوان "ارایه رویکرد جدید مبتنی بر کاهش پویای دامنه جهت بهبود تولید داده های آزمون و مکان یابی خطاهای پنهان"  دفاع نمود.

چکیده پایان نامه :

تولید داده آزمون نقش کلیدی در موفقیت فرآیند آزمون نرم‌افزار دارد. هدف از تولید داده آزمون تهیه مجموعه‌ای از داده‌ها برای ورودی‌های برنامه است که قادر به ارضاء معیارهای آزمون باشند. اکثر روش‌های موجود به دنبال تولید صرفاً یک داده آزمون برای پوشش معیارها هستند، درحالی‌که بسیاری از خطاها در صورتی آشکار می‌شوند که برنامه تحت آزمون با مقدار خاصی و یا دامنه خاصی از ورودی اجرا شود. به‌بیان‌دیگر اجراشدن دستورالعمل خطا، با هر مقدار دلخواهی، الزاماً خطا را آشکار ننموده و ممکن است نتیجه آزمون تصادفاٌ موفق باشد. ازاین‌رو تولید داده‌هایی که منجر به خطا شوند امری ضروری است. هرچند راهکارهای فراوانی در این خصوص ارائه گردیده، اما همچنان چالش‌های فراوانی در زمینهی تولید داده آزمون مناسب و کارآمد وجود دارد. هدف اصلی این رساله آن است که به‌جای صرف هزینه جهت به دست آوردن داده آزمون، آن‌را صرف به‌دست آوردن زیردامنه آزمون نماید. با به‌دست آوردن زیردامنه‌ای، از دامنه ورودی، که حاوی مقادیر لازم جهت پوشش معیار موردنظر باشد، می‌توان به‌کرات برنامه را اجرا نموده و اطمینان داشت که همگی آن‌ها معیار موردنظر را پوشش خواهند داد. جهت نیل به این هدف و پالایش دامنه اولیه متغیرهای ورودی، از داده‌های زائد، آن‌ها مکرراٌ به زیردامنه‌های همپوشان تقسیم شده و آن دسته از زیردامنه‌ها که قادر به ارضاء شرایط معیار آزمون نباشند، از دامنه ورودی جدا می‌گردند. با نگاشت کردن دامنه ورودی، و تقسیمات آن، به یک نمودار اویلر/ون و به‌کارگیری اصول و قواعد نظریه مجموعه‌ها می‌توان در خصوص اعتبار بسیاری از زیردامنه‌ها استنتاج نموده و فرآیند تشخیص زیردامنه‌های زائد را سرعت بخشید. این رویکرد باعث ایجاد جهشی بزرگ در افزایش دقت روش‌های مکان‌یابی خطا گردیده است. این جهش در ارزیابی‌های صورت گرفته بهخوبی مشهود است. رویکردهای پیشنهادی، در خصوص تولید داده آزمون و همچنین مکان‌یابی خطا، بیانگر تفاوت معنادار آن نسبت به رویکردهای مشابه می‌باشند.
واژه‌های کلیدی: آزمون نرم‌افزار، تولید خودکار داده‌های آزمون، آزمون تصادفی، تقسیم فضای دامنه ورودی، کاهش پویای دامنه، نمودار اویلر/ون، خطاهای معنایی، مکان‌یابی خطا،  استدلال منطقی، داده های آزمون تصادفاٌ موفق.

 .

 Abstract:
 Test data generation plays an important role in the field of software testing, which is the process of identifying a set of program input data that satisfies a given testing criterion. Most of the test data generation approach, generate a set of test data to satisfy the test criterion at least once. However, detection of latent faults may require several executions of the faulty path with different test data, before the fault could be detected. In other words, the execution of the faulty statement, with any arbitrary value, does not necessarily reveal the fault and the test result may be coincidental correctness. Therefore, generating failure causing test data is imperative. Although many approaches have been proposed in this regard, there are still many challenges in generating appropriate test data. Motivated by this fact, in this thesis, a new criterion, domain coverage, for white box testing is introduced. In search of the biggest subdomains for input variables exercising a given path, the variable domains are repeatedly broken down into nested overlapping subdomains as far as the resultant subdomains either satisfy or violate the path constraint. Representing the relation between the subdomains and their parents as a directed acyclic graph, an Euler/Venn reasoning system could be applied to select the most appropriate subdomains. This approach has led to a significant leap in increasing the accuracy of fault localization methods. The experimental results, in test data generation and fault localization, prove the outperformance of our proposed methods compared to state-of-the-art techniques.
Keywords: software testing, test data generation, random testing, Euler/Venn diagram, reasoning, dynamic domain reduction, fault localization, statistical analysis, coincidental correct test case.
 


ارائه ­دهنده:

اسماعیل نیک روان

  استاد راهنما:

  دکتر سعید پارسا


  هیات داوران:

دکتر محمدرضا کنگاوری، دکتر بهروز مینایی، دکتر محمدرضا رزازی                  
، دکتر حسن حقیقی

زمان : یکشنبه  27 آبانماه 1397

  ساعت 11:00

  مکان: دانشکده مهندسی کامپیوتر- طبقه دوم- اتاق دفاعیه دکترا

  از اساتید بزرگوار، دانشجویان گرامی و دیگر متخصصان و علاقه مندان به موضوع دفاعیه دعوت
می شود با حضور خود موجبات غنای علمی و ارتقای کیفی را فراهم سازند.

  دانشکده مهندسی کامپیوتر مدیریت تحصیلات تکمیلی

نشانی مطلب در وبگاه دانشکده مهندسی کامپیوتر:
http://idea.iust.ac.ir/find-14.11063.54665.fa.html
برگشت به اصل مطلب